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  1. 澳门博彩评级

    薄膜厚度測量儀

    價格:電議

    更新時間: 2019-01-30 14:25:02

    型號:ST4000/5000

    廠商:韓國K-MAC

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    配套軟件l 實時測量功能l 同時測量薄膜厚度和光學常數l 多可同時測3層薄膜l 映象顯示結果l X-Y-Z軸可控制移動l CCD圖像顯示l 用戶按照需要制定配方l 數據可存儲為Microsoft Excel文件薄膜厚度測量系統 K-MAC Spectra Thick系列l 操作簡單易懂l 非接觸式、非破壞式測量方法l 可同時測量多層膜厚度l 原地測量l 價格合理Spectra Thick 系列l 基于光學反射光譜原理l 入射光在樣本表面正常入射,可測量波長范圍在400~859nm的反射光l 確定薄膜的參數值,如厚度、光學常數(n,k)l 測量精確、有效、無需樣本預處理過程l 非接觸、非破壞式測量方法ST4000/5000系列 硅晶片測量型載物臺尺寸 150mm×150mm, 200mm×200mm, 300mm×300mm(移距)測量范圍 100Å~50μm(取決于薄膜類型)光斑尺寸 40μm /20μm/10μm/4μm(可選配20μm/10μm/5μm/2μm)測試速度 1秒/測量點(典型值)選配件 可編程X-Y軸自動移動載物臺配備發動機的Z軸/CCD攝像機自動聚焦參考標準樣本防震平臺應用領域 ST2000的所有應用領域及更精確測量適用于硅晶片及OELD測量

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