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    OSP鍍層測厚儀

    價格:電議

    更新時間: 2019-01-30 14:25:02

    型號:ST4080-OSP

    廠商:韓國KMAC

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    產品列表 > ST4080-OSP ST4080-OSP · 分析PCB/PWB 上的OSP涂層厚度 ST4080-OSP(有機可焊性保護膜)專用于測量PCB/PWB上銅鉑厚度。它屬于使用分光反射法的非破壞性光學測量儀,它可提供平均厚度和詳細的3D平面輪廓資料,使得實時檢測無需任何的樣品制備。由于ST4080-OSP具有測量很小面積與自動聚焦功能,適用于PCB基板表面的實模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度測量技術,而它在半導體,平板顯示與其他電子材料行業方面的可靠性得到了證實。為什么要選擇 ST4080-OSP?ST4080-OSP使用反射測量法提供PCB/PWB表面OSP涂層厚度的非接觸和非破壞性實時測量。ST4080-OSP 無需樣品制備,可確??焖俸秃啽悴僮?。ST4080-OSP測量的光斑尺寸可減小到0.135,這使得它可測量表面粗糙的銅的OSP涂層厚度. ST4080-OSP 與紫外可見分光計,受迫離子束方法,時序電化學還原分析還有其他的測量方法相比較,它基于更可靠的測量技術。ST4080-OSP 可獲取420nm~640nm范圍內的多波長光譜。ST4080-OSP可提供各點和它們的平均厚度的詳細數據,這樣可幫助人們更好地控制OSP質量。ST4080-OSP 通過3D表面形態學將測量程序化。 在電路行業,有機可焊性保護膜(OSP)涂層的使用對保護銅表面防止氧化是必需的。關于RoHS指令,該保護膜涂層要求無鉛適用,易加工和低成本。它的標準厚度測量范圍是0.1~0.5μm。ST4080-OSP 通過分析基板上薄膜表面的反射光和基板表面的反射光之間的光譜干涉來測量薄膜厚度。ST4080-OSP 同時測量多個光斑,并以輪廓形式顯示厚度測量結果。ST4080-OSP有兩種光學透鏡。用戶可使用5倍的光學透鏡方便地進入詳細模式的自選區域,再通過使用50倍的光學透鏡獲取詳細厚度輪廓。性能指標波長范圍 420nm ~ 640nm 厚度測量范圍 350 ~ 3小光斑尺寸 1.35, 0.135目標面積 864X648 / 86.4X64.8物鏡轉動架 5X(spot size 20), 50X(spot size 0.2) 測量層 1 固定樣臺面積 270mm(L) X 240mm(D) Z軸再現性 ± 1自動Z裝置 Z direction Head MovementTravel range: 50mmMax. velocity: 50mm/s 特征Non-destructive OSP thickness measurementNo sample preparation for fast and easy operationAvailable to detect OSP coating on Cu with rough surface conditionsAuto-focusing function3D contours results

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