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  1. 澳门博彩评级

    橢偏儀

    價格:電議

    更新時間: 2019-01-30 14:25:02

    型號:SE200BA

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    橢圓偏振光譜儀主要用于精確測量薄膜厚度,光學常數,薄膜表面粗糙度以及其他的物理,化學,光學性能。美國AST公司設計和制造適合不同應用的高品質橢圓偏振光譜系統,其產品具有強大的分析功能軟件TFProbe3.0,可以幫助研發或實驗人員迅速地獲得薄膜的厚度,表面粗糙度,合金成分和介電常數等數據。 這可能是性價比的橢偏儀了! 產品特點: 易于安裝 基于視窗結構的軟件,很容易操作 先進的光學設計,以確保能發揮出的系統性能 能夠自動的以0.01度的分辨率改變入射角度 高功率的DUV-VIS光源,能夠應用在很寬的波段內 基于陣列設計的探測器系統,以確??焖贉y量 多可測量12層薄膜的厚度及折射率 能夠用于實時或在線的監控光譜、厚度及折射率等參數 系統配備大量的光學常數數據及數據庫 對于每個被測薄膜樣品,用戶可以利用先進的TFProbe3.0軟件功能選擇使用NK數據庫、也可以進行色散或者復合模型(EMA)測量分析 三種不同水平的用戶控制模式:專家模式、系統服務模式及初級用戶模式 靈活的專家模式可用于各種的設置和光學模型測試 健全的一鍵按鈕(Turn-key)對于快速和日常的測量提供了很好的解決方案 用戶可根據自己的喜好及操作習慣來配置參數的測量 系統有著全自動的計算功能及初始化功能 無需外部的光學器件,系統從樣品測量信號中,直接就可以對樣品進行精確的校準 可精密的調節高度及傾斜度 能夠應用于測量不同厚度、不同類型的基片 各種方案及附件可用于諸如平面成像、測量波長擴展、焦斑測量等各種特殊的需求 2D和3D的圖形輸出和友好的用戶數據管理界面。   系統配置: 型號:SE200BA-M300 探測器:陣列探測器 光源:高功率的DUV-Vis-NIR復合光源 指示角度變化:可編程設定,自動可調 平臺:ρ-θ配置的自動成像 軟件:TFProbe 3.2版本的軟件 計算機:Inter雙核處理器、19”寬屏LCD顯示器 電源:110–240V AC/50-60Hz,6A 保修:一年的整機及零備件保修   基本參數: 波長范圍:250nm到1000 nm 波長分辨率: 1nm 光斑尺寸:1mm至5mm可變 入射角范圍:10到90度 入射角變化分辨率:0.01度 樣品尺寸:直徑為300mm 基板尺寸:多可至20毫米厚 測量厚度范圍*:0nm〜10μm 測量時間:約1秒/位置點 精確度*:優于0.25% 重復性誤差*:小于1 Ǻ   應用領域:                半導體制造(PR,Oxide, Nitride..) 液晶顯示(ITO,PR,Cell gap... ..) 醫學,生物薄膜及材料領域等 油墨,礦物學,顏料,調色劑等 醫藥,中間設備 光學涂層,TiO2, SiO2, Ta2O5... .. 半導體化合物 在MEMS/MOEMS系統上的功能性薄膜 非晶體,納米材料和結晶硅   產品可選項:              用于反射的光度測量或透射測量 用于測量小區域的微小光斑 X-Y成像平臺(X-Y模式,取代ρ-θ模式) 加熱/致冷平臺 樣品垂直安裝角度計 波長可擴展到遠DUV或IR范圍 掃描單色儀的配置  聯合MSP的數字成像功能,可用于對樣品的圖像進行測量

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